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        透射掃描電鏡
        發(fā)布時間: 2019-10-16 13:18:33

        透射掃描電鏡

        物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息




        特點:透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV),對于有機高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強,

        形成的透射像襯度低,而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV),因此應用其STEM模式成透射像,可

        大大提高像的襯度。


        掃描電鏡的STEM模式觀察生物樣品時,樣品無需染色直接觀察即可獲得較高襯度的圖像。


        應用:掃描電鏡STEM透射模式由于其襯度高、損傷小等特點,非常適合于有機高分子、生物等軟材料的

        結(jié)構(gòu)分析,將在此類材料的分析表征中發(fā)揮不可替代的作用。

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